伟煌生产超快速高低温气流冲击试验机厂家直供量大从优超快速冷热冲击试验机质量有保证

超高速高低温气流冲击试验机适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB电路板IC、光通讯(如收发器transceiver5S转换高低温冲击测试、SFP光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC特性分析、高低温循环测试、超快速高低温温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。
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超高速高低温气流冲击试验机适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB电路板IC、光通讯(如收发器transceiver5S转换高低温冲击测试SFP光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC特性分析、高低温循环测试、超快速高低温温度冲击测试、失效分析等可靠性试验

超快速高低温气流冲击试验机技术参数:

外形尺寸:W(宽)660mm*H(高)1120mm*D(深)1040mm

温度范围:-80℃至+250℃

控制精度:±0.5℃

冲击气流量:4~18SCFM(1.8~8.5L/S)

冲击速率:-55度    +125度10S

超快速高低温气流冲击试验机控制系统

1.15寸超大人机介面

2.支持USB、LAN,可实现电脑手机远程操控

3.二种检测模式:AIR NODE 和DUT MODE

4.运行模式

1)手操:手动切换/自动循环。

2)程序:手动切换/ 自动循环。

超快速高低温气流冲击试验机工作原理:

1、试验机输出气流罩将被测试品罩住,形成一个较密闭空间的测试腔,试验机输出的高温或低温气流,使被测试品表面温度发生剧烈变化,从而完成相应的高低温冲击试验;

2、可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快

超快速高低温气流冲击试验机满足试验标准:

1.GB/T 2423.1-2008试验A:低温试验方法;

2.GB/T 2423.2-2008试验B:高温试验方法;

3.GB/T2423.22-2012试验N: 温度变化试验方法

4. GJB/150.3-2009高温试验

5. GJB/150.4-2009低温试验          

6. GJB/150.5-2009温度冲击试验

超快速高低温气流冲击试验机工作模式:

A)2路主空气管输出,由分布头分为8路供气,带2套1拖8 系统

B) 2种检测模式Air Mode和DUT Mode

测试和循环于高温/常温/低温(或者不要常温)

超快速高低温气流冲击试验机可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快。

超快速高低温气流冲击试验机是将被控制温度的压缩机空气从气嘴喷射出来,仅仅只需要数秒钟的时间就可以达到一个温度试验必须的环境,与普通的高低温冲击试验箱相比较,大大的缩短了试验时间,提高生产效率。

 

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